สร้าง Wafer Map ด้วย ruby และ Cairo

Wafer Probe หรือ Wafer Sort เป็นขั้นตอนที่สำคัญขั้นตอนหนึ่งของกระบวนการผลิต IC chip โดยจะเป็นการนำ Silicon Wafer ที่ทำการขึ้นลายวงจรเรียบร้อยแล้วมาทดสอบ "ได"(Die, ตัว chip ที่ยังอยู่บนแผ่น Wafer โดยยังไม่ได้ถูกตัดออกมาเป็นชิ้นๆ) ที่อยู่บน Wafer นั้นว่าดีหรือเสีย ซึ่งหลังจากทดสอบไดทุกตัวบนเวเฟอร์เรียบร้อยแล้ว เราจะได้ soft file ซึ่งระบุตำแหน่ง coordinate x,y และสถานะของไดที่ถูก probe ไปแล้วว่าตำแหน่ง coordinate นั้นๆ เป็นไดที่ดีหรือเสีย ไฟล์ที่ว่าอาจเป็น text file ง่ายๆ ซื่งผมขอเรียกมันว่า coordinate file แล้วกันครับ

อันนี้่คือตัวอย่างของแผ่นซิลิกอนเวเฟอร์จริงครับ


วันนี้เราจะทดลองนำไฟล์ coordinate มาใช้ในการสร้างกราฟฟิกในรูปของ Wafer map image file
Wafer map ที่เราต้องการจะมีหน้าตาประมาณนี้ครับ สีเขียวที่เห็นคือไดที่ดี (good die) ส่วนสีอื่นๆคือไดเสีย (rejected die) ซึ่งสีที่ต่างกันแสดงถึงสาเหตุของอาการเสียที่แตกต่างกันออกไป

กลับมาแล้ว

ตอนนี้งานประจำที่ทำอยู่ซาลงเยอะครับ มีเวลากลับมาทบทวนสิ่งต่างๆที่ผ่านมามากขึ้น และก็นึกขึ้นได้ว่าเราเคยเขียน blog เกี่ยวกับ Ruby อยู่นี่หว่า
กลับมาดูอีกที โอ้ว มันผ่านมา 2 ปีแล้วเหรอเนี่ย
ปล่อย blog ล้างมานานขนาดนี้ จะมาเขียนต่อก็รู้สีกยังไงๆ แอบอายอยู่ลึกๆ
แต่สิ่งที่ทำให้ตัดสินใจว่าจะเขียนต่อ คือ ผมยังคงเห็นยอด view ของ blog นี้มีความเคลื่อนไหวอยู่จนถึงทุกวันนี้
ตัวเลขไม่มาก แต่ผมคิดว่ามีความหมายนะ อย่างน้อยก็ยังมีคนสนใจใน Ruby เหมือนกับผม มันทำให้มีความอยากขึ้นมาอีกครั้งที่จะเห็นบ้านเราพูดถึง Ruby และใช้กันอย่างกว้างขวางมากขึ้น
แม้จะเป็นส่วนน้อยๆ และคิดเข้าข้างตัวซะมาก แต่ก็ยังอยากจะลองดู

ก่อนลากันวันนี้ ขอฝาก link นี้ไว้แล้วกันครับ

เป็น note Ruby2.0 ที่ Matz พูดไว้ในงาน Waza 2013
http://showyou.com/popular/v:61043050

อันนี้เป็น full slide ครับ
https://speakerdeck.com/yukihiro_matz/ruby-2-dot-0-en